อุปกรณ์ทดสอบอัจฉริยะชิปหน่วยความจำแฟลช

ระบบทดสอบอัจฉริยะชิปหน่วยความจำแฟลช

รายละเอียดสินค้า:

1. ระบบทดสอบอัจฉริยะ YC-N8-NAND เป็นระบบทดสอบหน่วยความจำแฟลชที่ครอบคลุมซึ่งสามารถปรับแต่งเพื่อทดสอบอนุภาคแฟลชได้สูงสุด 8 ชิ้นพร้อมกัน
2. รองรับรูปแบบการทดสอบที่หลากหลายและพารามิเตอร์การทดสอบที่กำหนดเองมีโฟลว์การทดสอบพื้นฐานแบบคลิกเดียว การทดสอบเชิงทดลองที่มีความยืดหยุ่นสูง และโฟลว์การทดสอบขั้นสูง และสามารถให้โฟลว์การทดสอบพื้นฐานแบบคลิกเดียว การทดสอบเชิงทดลองที่มีความยืดหยุ่นสูง และโฟลว์การทดสอบขั้นสูง ซึ่งสามารถรับรู้การทดสอบการทำงานต่างๆ เช่น อายุการใช้งานที่เหลืออยู่ การทำนาย การทดสอบจริง การเก็บรักษาข้อมูล และการรบกวนการอ่านของอนุภาคหน่วยความจำแฟลชรายงานการทดสอบสามารถส่งออกได้อย่างรวดเร็วและง่ายดายหลังจากเสร็จสิ้นการทดสอบโดยจะให้ข้อมูลการทดสอบแบบกราฟิกที่ใช้งานง่ายที่สุดเพื่อให้การอ้างอิงที่ถูกต้องที่สุดสำหรับการจำแนกประเภทและการประยุกต์ใช้อนุภาคแฟลชนอกจากนี้ยังให้ข้อมูลอ้างอิงที่แม่นยำที่สุดสำหรับการจำแนกประเภทและการประยุกต์ใช้อนุภาคแฟลช และเปิดใช้งานการจัดระดับอัจฉริยะตามผลการทดสอบคุณภาพของอนุภาคแฟลช

ข้อมูลจำเพาะของผลิตภัณฑ์:

1. ทดสอบโดย JEDEC เลขที่ 218: Solid State Technology Association B-2016 Solid-State Drive (SSD) ข้อกำหนดและการทดสอบความทนทาน Motho;
2. พื้นฐานการทดสอบตามมาตรฐาน JEDEC หมายเลข 47 NVCE: Solid State Technology Association Stress-TestDriven Qualification of Integrated Circuits;
3. ข้อกำหนดการออกแบบบอร์ดทดสอบเพื่อให้ตรงตามข้อกำหนดสภาพแวดล้อมอุณหภูมิการทดสอบระดับอุตสาหกรรม

ข้อกำหนดทางเทคนิค:

แนะนำบริษัทของเรา:
HAIDA INTERNATIONAL เป็นผู้ผลิตอุปกรณ์ทดสอบประเภทต่าง ๆ ระดับมืออาชีพมากว่า 24 ปีผลิตภัณฑ์ HAIDA ใช้กันอย่างแพร่หลายในผลิตภัณฑ์กระดาษ บรรจุภัณฑ์ หมึกพิมพ์ เทปกาว กระเป๋า รองเท้า ผลิตภัณฑ์เครื่องหนัง สิ่งแวดล้อม ของเล่น ผลิตภัณฑ์สำหรับเด็ก ฮาร์ดแวร์ ผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์ ผลิตภัณฑ์พลาสติก ผลิตภัณฑ์ยาง และอุตสาหกรรมอื่น ๆ และใช้ได้กับวิทยาศาสตร์ทั้งหมด หน่วยงานวิจัย สถาบันตรวจสอบคุณภาพ และสาขาวิชาการ